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OFweek浅析LED惯例性老化方法

来源:http://www.dxjps.cn 责任编辑:www.d88.com 更新日期:2018-09-11 18:07

  OFweek浅析LED惯例性老化方法

   LED惯例性老化试验比照

   一般来说,尤其是大功率LED在初始点亮阶段光度都会有必定的衰减,LED封装厂为了提供给运用端厂商发光安稳的产品,或许是运用端厂商家为了取得安稳的led资料,一般都会做一些老化试验。当然LED老化试验有多种方法,如惯例性老化、过电流冲击破坏性试验等等。

   LED厂商一般会用以下几种方法进行惯例性老化:

  1、多颗管串联老化:恒压老化电路和恒流老化电路
2、多颗管并联老化
3、多颗管串并联老化:串并恒压老化和串并恒流老化
4、单管恒流老化

   比较以上4种老化方法, 1、3种方法中只需有一颗LED呈现质量毛病,比方LED短路或许断路都会影响其他LED的作业电流参数。第2种方法优于1、3种,任一颗LED特性改变不会影响到其他LED老化参数,但事实上靠电阻限流的方法是不可靠的,电阻自身阻值漂移和LED自身电压特性改变都会严重影响LED参数。明显,第4种单管恒流老化抓住了LED电流作业特性,是最科学的LED老化方法。

   老化在试验进程中应该是一个非常重要的进程,但在许多企业往往会被忽视,不能进行正确有用的老化,后面临LED自身所进行的包含亮度、波长等一切参数的剖析都将不确定。过电流冲击性老化也是厂家常常运用的一种老化手法,一般运用频率可调、电流可调而且占空比可调的恒流源进行此类老化,以等待短时间内判别LED的质量及预期寿数。
 

  

   LED光源LED照明LEDLED试验

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